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            智能型X射線熒光鍍層測厚儀
            發布時間:2022/3/28 10:33:12      

            專門研發的一款上照式膜厚測試儀。儀器外觀簡潔大方,通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動,雙激光定位和保護系統,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦精準分析。

            性能優勢

            配置——采用高分辨率SDD探測器;分辨率高達140eV
            上照式設計——實現微小不規則表面樣品如弧形,拱上照式設計形,凹槽,螺紋等異形的快、準、穩高效檢測
            高精度自動化的X軸Y軸Z軸的聯動裝置實現對樣品的精準對焦快速檢測
            采用高度自動定位激光,可快速精準定位測試高度,以滿足不同尺寸的鍍層測試
            多種準直孔可供選擇——準直孔:0.05*0.3mm;Ф0.1mm;Ф0.2mm;Ф0.3mm;Ф0.5mm
            定位精準——樣品可快速精準定位
            操作簡易——全自動智能集成設計,讓檢測輕松完成

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